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検査装置 AOI/SPI

・高速・高精度判定を実現する
・「クリアビジョンキャプチャリングシステム」搭載。
・高輝度白色LEDの大口径3段リング照明と同軸照明で、超鮮明画像を撮像。
・「テンプレートモード」と「プロセスモード」の選択により、簡単オペレーションで高精度な検査が可能。
・用途に合わせて2D、3D検査に対応。


基本仕様

基板サイズ シングルレーン搬送 50mm×50mm - 510mm×590mm
630mm×590mm(長尺基板対応)※1
デュアルレーン搬送 50mm×50mm - 510mm×300mm
検査分解能 15μm(標準分解能)、10μm(高分解能)
画角 30.0×30.0mm、20.0×20.0mm※2
検査項目 欠品、ずれ、極性、表裏反転、未はんだ、ブリッジ、はんだ量、挿入部品抜け、文字認識※1
検査対象部品 0402※2/0603、円筒形チップ、タンタルコンデンサ、トランジスタ、SOP、QFPなど
FOV
(最適条件)
2D 0.14秒/1画面
3D i-3D SPI 0.43秒/1画面
e-3D AOI 0.35秒/1画面